CX-118A晶振測試儀

產(chǎn)品簡介：

一、CX-118A晶振測試儀，采用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。。

具有PPM測量功能，預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動器生產(chǎn)企業(yè)，測試結(jié)果顯示直觀。

主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計 ，功能設(shè)定

二、CX-118A晶振測試儀主要技術(shù)指標：

主要測試時鐘晶振： SMD2012，SMD3215，SMD7015，SMD8038貼片封裝32.768KHz 時鐘晶振

頻率測量靈敏度：30mv

PPm測量：3KHz — 100MHz

PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）

（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定

誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。

閘門設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，

1檔閘門1ms — 10s可設(shè)，

每1mS為一階梯任意設(shè)定。

周期測量范圍：100 ms — 10 s

晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日

時基頻率：OCXO--10MC

三、特點：

微機控制，可編程器件開發(fā)， 模塊化設(shè)計

100MHz同步等精度測量方式

SMT貼裝生產(chǎn)、工藝，全新小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計

9位LED顯示

PPm提示功能

2、產(chǎn)品外觀圖：